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OLED發光效率測量系統

描述:OLED發光效率測量系統,我公司推出OLED光譜性能測試系統,OLED發射光譜測量系統,OLED光譜分析儀,OLED光電性能測試系統(IVL曲線,外量子效率EQE),OLED載流子遷移率測量系統、光電性能評估系統以及軟件模擬研發系統,為廣大科研工作者和研發機構提供了有效的測試工具。

更新時間:2024-07-04
產品型號:
廠商性質:代理商
詳情介紹
品牌其他品牌價格區間面議
測量模式交流產地類別進口
應用領域環保,化工,生物產業,能源,電子

OLED發光效率測量系統


產品名稱:OLED/LED電致發光/光致發光測量系統,EL/PL測量系統,多角度光譜測量系統,發光效率測量系統,發光光譜測量系統,外量子效率測量系統。


Phelos用于測量OLED、鈣鈦礦LED及其他發光器件的發射光譜特性和極化角,同時也可測量器件的s和p偏振光譜、發射光譜與角度的關系,計算出發射層中激子的發光角度及位置分布。


技術優勢

• 角度依賴的PL光致發光譜分析

• 角度依賴的EL電致發光譜分析

• 角度依賴的發光分析

• 兼容頂發光和底發光結構的OLED的及其他發光器件

• p- and s-偏振態檢測

• 偏振角度連續掃描

• 發光層中發光偶極子檢測及偶極子趨向分析

• 兼容各種幾何尺寸樣品

• 樣品便捷對準

• 可與Setfos結合,對發光層進行分析


OLED發光效率測量系統

測量功能

• 顏色效率分析

• 可視角分析

• 量子效率EQE

• 流明效率lm/W

• 發光效率Cd/A

• 發光區域擬合

• 發光趨向分析

• 發光特性角度依賴分析

• 光譜和顏色VS. 發射角

• 發光層中偏振態分析

• 散射特性分析

• 工作點

• 效能 (cd/A)

• CIE 坐標

• 色溫和顯色指數等分析

• 電流-電壓-亮度(J-V-L)曲線測量

• 光譜輻照度/強度

• 輻射強度

• 亮度


技術規格

Photoluminescence and Electroluminescence

角度范圍

-90° to +90°, top and bottom emission

角度分辨率

< 0.5°

光譜范圍

360 to 1100 nm

光譜分辨率

2.5 nm *

信噪比

300:1

電壓范圍

± 20 V

電流范圍

± 120 mA

*小分辨電流

< 100 pA

伺服偏振器

0 to 360° (continuous)

樣品臺尺寸

40 x 40 mm2

PL 激發光

275 nm to 405 nm(默認365nm)

PL 激發光光斑

5 x 3 mm2

設備重量

18 kg

設備尺寸

50 x 29 x 24 cm3






測試模式

OLED發光效率測量系統


測量實例


OLED發光效率測量系統


OLED發光效率測量系統


OLED發光效率測量系統


OLED發光效率測量系統


OLED發光效率測量系統


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